6.30号 中国仓库到货5套，日本SANKO山高电磁式膜厚仪 SL-200E

日本SANKO山高电磁式膜厚仪 SL-200E

测量范围 0~500 μm

特征

模拟膜厚仪

非常适合测量小零件，高性能小型2极型：可以测量小地方和内部（定制）

该探头体积小，适用于测量局部涂层的厚度，如平面和弯曲到圆棒、零件、复杂形状和内部。

规格

测量范围：0 至 500 μm

探头：磁极/2极型，磁极直径/φ2.5，尺寸/10（W）×17（H）×21（D）mm

尺寸：190 (W) x 90 (H) x 120 (D) 毫米

重量：1.8公斤

附件：标准板、AC适配器、肩包