kett凯特膜厚计 探头 HP-100
产品概要新开发的膜厚计用探头L-500涡流探头（用于非磁性金属基材）存储多达 50 个应用程序记忆主要规格测量方法涡流测量对象非磁性金属上的绝缘涂层测量范围0 至 1,200μm 或 47.0mils测量精度小于 50 μm ±1.0 μm50 μm 以上 ±2%适用机型薄膜测厚仪 L-500
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产品概要
新开发的膜厚计用探头L-500
涡流探头（用于非磁性金属基材）
存储多达 50 个应用程序记忆
主要规格
测量方法 涡流 测量对象 非磁性金属上的绝缘涂层 测量范围 0 至 1,200μm 或 47.0mils 测量精度 小于 50 μm ±1.0 μm
50 μm 以上 ±2%适用机型 薄膜测厚仪 L-500