超声波测厚仪 TI-56L
超声波测厚仪 TI-56L品牌：JFE特点：● 只需单面触碰探针即可进行测量，可在不产生破坏的状态下测量厚度。● 只需调整零点与声速后即可使用。● 即使断开电源，设定好的声速值也可存储下来，在改变检测材料的材质之前不需要调整声速。● 带有管测量模式，可稳定地对管进行测量。● 采用多种测量模式，可测量金属与树脂的厚度。规格：● 无校准证书● 测量方式:超声波脉冲反射方式● 探针:电缆长度1m・带LE
- 型号： TI-56L
超声波测厚仪 TI-56L
品牌：JFE
特点：
● 只需单面触碰探针即可进行测量，可在不产生破坏的状态下测量厚度。
● 只需调整零点与声速后即可使用。
● 即使断开电源，设定好的声速值也可存储下来，在改变检测材料的材质之前不需要调整声速。
● 带有管测量模式，可稳定地对管进行测量。
● 采用多种测量模式，可测量金属与树脂的厚度。
规格：
● 无校准证书
● 测量方式:超声波脉冲反射方式
● 探针:电缆长度1m・带LEMO接头・探针直径φ13.0mm(接触面直径φ11.5mm)
● 电源:5号干电池×1节(附带测试用)
● 尺寸:69×30×144mm
● 附件:探针・耦合介质･5mm厚度校准用基准片(附带于主体上)・便携盒