NITTOSEIKO日东精工 低电阻率自动测量系统 紧凑型测绘系统 MCP-S330 原装进口
特征导电膜、金属、ITO薄膜等的膜厚和成分的变化一目了然。能够绘制最大300mm见方的样品并连续测量多个样品。可连接到 Loresta GX 以测量 10-4 至 10+7Ω 范围全自动测量、计算、数据处理和3D图形输出导电膜、金属、ITO薄膜等的膜厚和成分的变化一目了然。随着显示器件（液晶和有机EL）要求具有更快的响应速度和更高的清晰度，电极基板的均匀性变得更加重要。表面电阻率取决于材料。当材料
- 型号： MCP-S330
