日本NITTOSEIKO日东精工 MCP-S521 电阻率自动测量系统 大型测绘系统 高电阻型
电阻率自动测量系统 大型测绘系统 MCP-S620型/MCP-S521型 特征适用于测量ITO薄膜、各种金属薄膜等的膜厚分布以及传送带的电阻率分布。特征测量、计算、数据处理和3D图形输出可以自动化。（电路板尺寸最大可达 650 x 650 毫米。）以三维图形显示[Ω]、[Ω/□]、[Ωcm]、[S/cm]。测量位置设置可以通过三种方式一键完成：网格输入和顺序输入。它可用于广泛的用途，从研究和开发到
- 型号： MCP-S521
