IMV艾目微

HiP-2000绝缘劣化测试仪 高压型日本IMV艾目微

绝缘劣化测试仪高压型 ( HiP-1000/2000/3000 )实时测量高压和微弱电流I 采用1 个通道 / 1 个电源/ 1 个测量电路方法和双结构有主动保护电缆实现高压应用,这是IMV 的最大特点。特长■ 准确测试电流限制尽管可以施加高电压,但是可以限制低电压。■ 防止操作不正确配备互锁装置,可防止高压应用时发生操作不正确。 防止人为错误。■ 最多可扩展 256 通道 ( 1 个机箱 : 3

  • 型号: HiP-2000

绝缘劣化测试仪

高压型 ( HiP-1000/2000/3000 )

  • 实时测量高压和微弱电流

  • I 采用1 个通道 / 1 个电源/ 1 个测量电路方法和双结构有主动保护电缆实现高压应用,这是IMV 的最大特点。

特长

    • ■ 准确测试电流限制

    • 尽管可以施加高电压,但是可以限制低电压。


    • ■ 防止操作不正确

    • 配备互锁装置,可防止高压应用时发生操作不正确。 防止人为错误。


    • ■ 最多可扩展 256 通道 ( 1 个机箱 : 32 通道 )

    • 即使是 1000 V,也可以添加高达 256 通道。

规格


HiP-1000HiP-2000HiP-3000
施加电压+1.0 V - +1000 V ( 1 V 単位 )+100 V - +2000 V ( 10 V 単位 )+100 V - +3000 V ( 10 V 単位 )
通道数 ( 每个基板 )8 ch4 ch4 ch
最多可增设通道数256 ch32 ch32 ch
绝缘电阻测量范围105Ω - 1014Ω ( 施加电压 100 V 时 )
测量电流测量范围0.1 pA - 500 µA ( 5 种测量范围 ) * 可选择固定范围或者自动范围
( 0.1 pA - 5 nA / 10 pA - 500 nA / 100 pA - 5 µA / 10 nA - 50 µA / 100 nA - 5000 µA )
测量范围
施加 100 V 时
电流值测量精度
5 nA 范围 : ±( 5 %fs +100 pA )
500 nA 范围 : ±( 2 %fs +5 nA )
5 µA 范围 : ±( 1 %fs +10 nA )
50 µA 范围 : ±( 0.5 %fs +0.1 µA )
500 µA 范围 : ±( 0.5 %fs +1 µA )
偏置电压施加方法单信道独立偏置方式 ( 单电源供电 → 1 ch )
偏置电压设定+1.0 V - +1000 V ( 1 V 単位 )+100 V - +2000 V ( 10 V 単位 )+100 V - +3000 V ( 10 V 単位 )
偏置电压放大器远算放大方式
输出噪音 : 测量范围的 0.05 %
作为高压放大稳定电源,采用串接式高压稳定电源
采用高压远算放大器,达到 100 微秒级的高速响应
偏置电压精度±( 0.3 % +0.5 V ) 测量范围的±( 0.4 % +0.5 V ) 测量范围的±( 0.5 % +0.5 V ) 测量范围的
偏置电压测量精度±( 0.3 % +0.5 V ) 测量范围的±( 0.4 % +0.5 V ) 测量范围的±( 0.5 % +0.5 V ) 测量范围的
最长试验时间9,999 小时
测量电路绝缘电阻方式 : 底测电流计量
电流测量电缆双重构造主动保护电缆
电缆开路检测功能计量电缆连接器脱落检测和警告
收存数据内容收存时间 ▪ 经过时间 ▪ 电阻值 ▪ 施加电压 ▪ 温度 / 湿度 ( 需要恒温箱通信选项 )
电脑OS : Windows 10 对应
离子迁移测量模式结束模式 : 在迁移发生点结束
触发模式 : 以迁移发生阈值开始,达到结束阈值时试验结束
时间模式 : 以迁移发生阈值和结束阈值进行发生次数的计数 ( 最多 50 次 )
电源AC100 V 50/60 Hz 约 100 VA / 架次
收纳箱外形尺寸W430 × D550 × H635 mm ( 不含突起物 )
重量约 35 kg




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