科特科学kett双型薄膜测厚仪LZ-200J

可出具校准文件：付费

■具有电磁和涡流功能的便携式薄膜厚度计和内置打印机

■快速响应磁性和非磁性金属的各种薄膜厚度测量
■一键式平均值和标准偏差配备统计计算获得最大值和最小值的功能、校准记忆功能、极限设置功能等

科特科特双型膜厚测试仪LZ-200J的特点

双型膜厚仪 LZ-200J 既可以测量电磁式膜厚仪（测量施加在磁性金属上的膜厚），也可以测量涡流式膜厚仪（测量磁性金属上的绝缘膜厚）。

配备通过按钮操作获得平均值、标准偏差、最大值和最小值的统计计算功能，消除因基板差异导致的误差的校准记忆功能，指定膜厚控制范围的极限设置功能等和

测量结果可以用内置打印机打印出来

内置膜厚仪

日期、批号和测量结果可以当场打印出来并作为文件提交。

膜厚控制所需的统计计算功能

您可以通过简单的操作获得测量结果的平均值、标准偏差、最大值、最小值等。

校准记忆功能

为了应对基材的材质、形状、厚度的变化，可以预先登录并调出4种电磁法和4种涡流法的基材的最佳校准曲线.

限位设定功能

您可以设置要管理的膜厚的上限和下限。

如果测量的膜厚超出设定范围，蜂鸣器会响起，显示屏上会显示警告标记。

小探头

铅笔型单点接触恒压探头，无论测量位置如何，都能提供稳定的测量值。

耐磨探头

测量探头的尖端使用钛涂层用于电磁法和工业红宝石用于涡流法。

测量原理电磁感应式（LZ-200J Fe探头）

当交流电磁铁靠近铁（磁性金属）时，穿透线圈的磁通量会根据接近距离而变化，从而改变施加在线圈两端的电压。

电磁式薄膜测厚仪从电流值读取这个电压变化，并将其转换为薄膜厚度，用于测量磁性金属上的非磁性薄膜。