Photonic‑Lattice二维复折射评估系统 WPA-KAMAKIRI
Photonic‑Lattice二维复折射评估系统 WPA-KAMAKIRI当产品在必须进行高空间分辨率评估的情况下非常有效。PET薄膜和树脂成型品通常具有超过1000nm的相位差，为了评估定量复折射分布，光学系统会变得复杂。WPA系列通过选择三种不同的波长，并比较和计算各波长下的相位差，实现了测量约3000nm相位差的能力。此外，为了满足测量约10000nm超高相位差的需求，我们还提供了高相
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Photonic‑Lattice二维复折射评估系统 WPA-KAMAKIRI
当产品在必须进行高空间分辨率评估的情况下非常有效。PET薄膜和树脂成型品通常具有超过1000nm的相位差，为了评估定量复折射分布，光学系统会变得复杂。
WPA系列通过选择三种不同的波长，并比较和计算各波长下的相位差，实现了测量约3000nm相位差的能力。此外，为了满足测量约10000nm超高相位差的需求，我们还提供了高相位差选项。
测量案例
胶片
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| 输出项目 |
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| 测量范围 |
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| 重复可重复性 |
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| 复屈折画素数 |
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| 测量波长 |
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| 尺寸 (宽 x 深 x 高) |
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| 测量视野大小 |
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| 本体重量 |
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| 接口 |
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| 电源/消耗电流 |
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| 软件 |
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| 配件 |
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| 变焦镜头 |
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| 广视野校正 |
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| 镜头解析 |
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| 专用镜头测量台 |
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| 实时解析 |
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| CD模式 |
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| 高位相差 |
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| 外部控制 |
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